Meyers Großes Taschenlexikon in 25 Bänden
Rastertunnelmikroskop
Rastertunnelmikroskop,Abk. RTM (engl. STM, von scanning tunnel microscope) (Tunnelmikroskop), Mikroskop, das zur Abbildung der Oberfläche eines Objekts den Tunnelstrom (Tunneleffekt) zw. Festkörper und Abtastspitze des Mikroskops ausnutzt; durch punktweises Abtasten der Probenoberfläche mit der Sonde sind Strukturen im atomaren Bereich auflösbar. Neben der Strukturanalyse von Oberflächen ist das R. zur Manipulation einzelner Atome auf Kristalloberflächen und zur Erzeugung kleinster Strukturen geeignet, wodurch eine neue Speichertechnologie im atomaren Maßstab möglich wird. - Das Prinzip des R. kann auf die verschiedensten Wechselwirkungen zw. zwei Körpern übertragen werden. Daraus resultiert eine Anzahl von Rastersondenmikroskopen, die dem R. analog sind, aber statt auf den Tunnelstrom auf andere Parameter reagieren. So werden beim Rasterkraftmikroskop die bei Kontakt zw. Sonde und Probenoberfläche auftretenden abstoßenden Kräfte, chem. oder Austauschkräfte, Van-der-Waals-, Coulomb- oder magnet. Kräfte ausgenutzt. Weiterhin sind opt. Nahfeldmikroskopie, Mikroskopie auf der Basis der Wärmeleitung, Kapazitätsänderung oder ion. Leitfähigkeit möglich.
▣ Literatur:
Chen, C. J.: Introduction to scanning tunneling microscopy. New York u. a. 1993.
⃟ Wiesendanger, R.: Scanning probe microscopy and spectroscopy. Methods and applications. Cambridge 1994.
Rastertunnelmikroskop,Abk. RTM (engl. STM, von scanning tunnel microscope) (Tunnelmikroskop), Mikroskop, das zur Abbildung der Oberfläche eines Objekts den Tunnelstrom (Tunneleffekt) zw. Festkörper und Abtastspitze des Mikroskops ausnutzt; durch punktweises Abtasten der Probenoberfläche mit der Sonde sind Strukturen im atomaren Bereich auflösbar. Neben der Strukturanalyse von Oberflächen ist das R. zur Manipulation einzelner Atome auf Kristalloberflächen und zur Erzeugung kleinster Strukturen geeignet, wodurch eine neue Speichertechnologie im atomaren Maßstab möglich wird. - Das Prinzip des R. kann auf die verschiedensten Wechselwirkungen zw. zwei Körpern übertragen werden. Daraus resultiert eine Anzahl von Rastersondenmikroskopen, die dem R. analog sind, aber statt auf den Tunnelstrom auf andere Parameter reagieren. So werden beim Rasterkraftmikroskop die bei Kontakt zw. Sonde und Probenoberfläche auftretenden abstoßenden Kräfte, chem. oder Austauschkräfte, Van-der-Waals-, Coulomb- oder magnet. Kräfte ausgenutzt. Weiterhin sind opt. Nahfeldmikroskopie, Mikroskopie auf der Basis der Wärmeleitung, Kapazitätsänderung oder ion. Leitfähigkeit möglich.
▣ Literatur:
Chen, C. J.: Introduction to scanning tunneling microscopy. New York u. a. 1993.
⃟ Wiesendanger, R.: Scanning probe microscopy and spectroscopy. Methods and applications. Cambridge 1994.